Microscope ya LeicaDM12000MKutumia kanuni za optics, sampuli iliyopimwa huwekwa kwenye jukwaa la uchunguzi katika microscope na picha ya sampuli huongezwa kwenye glasi ya microscope kwa kutafakari au kupitisha mwanga. Chini ya sifa ya sampuli ya kusawanya na kunyonya mwanga, jambo la picha la sampuli wakati wa kupiga picha linabadilika daima kulingana na mabadiliko ya vigezo. Wachunguzi wanaweza kuhukumu microstructure na tishu ya sampuli kulingana na mabadiliko haya.

DM12000M Leica kimataifa microscope sifa:

Kubuni mpya ya macho inaweza kutoa ukaguzi wa kwanza wa haraka wa hali ya macro na kazi ya njia ya mwanga wa ultraviolet (OUV, hali ya uchunguzi wa ultraviolet), si tu kuboresha azimio lakini pia kuboresha uwezo wa ukaguzi wa inchi 12 (300 mm) ya silikoni. Teknolojia mpya ya taa ya LED iliyounganishwa na kuunganishwa kwenye microscope, mionzi ya joto ya chini na teknolojia ya kuunganishwa ndani ya mwili huhakikisha hali bora ya mtiririko wa hewa nje ya mwili.

II, DM12000M Leica Metallic Microscope katika kupunguza matumizi ya ukaguzi, kuboresha ufanisi wa ukaguzi Auto-kuzingatia vifaa vya kuangalia kuangalia kuangalia kuangalia inaweza kushirikiana na njia zote za kuangalia kuangalia kutafakari, hata ikiwa ni pamoja na uwanja wa giza na tofauti ya kuingilia katika uchunguzi wa lining. Kufikia haraka na sahihi moja kwa moja kuzingatia, hata wakati wa kubadilisha njia ya kuangalia unaweza kupata usahihi wa kuzingatia wakati halisi.

Tatu, vifaa viwili vya mwanga vinaweza kuchagua, aina ya jumla na aina ya aperture ya thamani ya juu. Kwa ajili ya FPD, MASK bodi ukaguzi hutoa mwanga sahihi, na inaweza kuwa vifaa polarizer, kufikia urahisi polarization uchunguzi wa mwanga projection. Tofauti ya juu, azimio la juu, ukaguzi wa viwango vya juu kwa ajili ya fluorescence uchunguzi kwa ajili ya uchaguzi wa mabaki ya photogravure fluorescence spectroscope moduli mfumo wa macho UV inaweza kutoa tofauti ya juu na azimio, azimio inaweza kufikia 0.12μm.

4, ina njia mbalimbali za fluorescence kama vile UBG inaweza kuchagua, kwa ajili ya mabaki ya chembe ya mwanga na ukaguzi wa OLED. Rahisi mawasiliano interface kwa ajili ya kudhibiti na vigezo vya ukubwa wa microscope na aperture mwanga appendix kupata RS232C kwa ajili ya wafers na vifaa, hata ukaguzi wa ndani wa miguu welding karibu infrared uchunguzi vifaa viwango ni pamoja na RS232C interface ambayo inawezesha sehemu ya umeme ya microscope ya kudhibiti na PC, na inaweza kutekelezwa ili microscopes kadhaa kwenye mstari wa mchakato kufanya kazi katika hali sawa ya mazingira.

5, ikiwa ni pamoja na vifaa maalum vya infrared, kurekebisha tofauti kutoka mwanga wa kuonekana hadi mwanga wa karibu wa infrared, kwa ajili ya ukaguzi wa kina au wa ndani wa IC, unaweza kufikia ukaguzi kamili wa WAFER BUMP moja kwa moja line width CD vifaa vya kupima kwa teknolojia ya subpixel kufikia vipimo vya CD vya usahihi mkubwa.

6, matumizi ya nishati ya chini ya umeme kuokoa kubuni sana kupanua maisha ya huduma, kwa kufanana na falsafa ya ulinzi wa mazingira ya kijani. One-click kudhibiti kubuni watumiaji wanaweza kwa urahisi kukamilisha kubadilisha viwango na kuhusiana na taa na athari lining.